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工艺与先进包装

工艺与先进包装

了解先进逻辑技术的所有方面,了解竞争的历史和预期的方法,并做出更好的下一个节点技术选择。

  • 尺寸与材料分析
    • 每年7-8份逻辑报告
    • 每年4-5份先进包装报告
  • 趋势分析-每年3次按技术要素的技术趋势简报
  • 年度研讨会

流程流

流程流

需要订阅《加工与高级包装》
通过过程流分析(PFA)、过程流完全仿真(PFF)等增强您的高级工艺和包装订阅。

  • 工艺流程分析(PFA) -工艺步骤,工具类型,材料-每年7份逻辑报告
  • 流程流全仿真(PFF) - 3D仿真,布局GDS - 4逻辑报告/年

晶体管特性

晶体管特性

查看完整的工艺技术和直流性能。了解流程,观察业绩,发现趋势。

  • IOFF对ION和IOFF对ID的通用曲线,LIN;每个通用曲线数据点的传输和输出特性
  • 年度研讨会
  • 比较分析简报

SoC设计分析

SoC设计分析

该订阅专注于领先的无晶圆厂/代工组合的大批量首次推向市场的soc,提供领先soc多个领域的标准单元分析和布局分析。

  • 提取标准单元,评估路由效率,计算精确的栅极密度指标
  • 大面积布局图像集在CircuitVision交付,上层金属使用调查
  • 趋势分析-每年3次关于前沿SoC领域的简报
  • 年度研讨会

数字平面图分析

数字平面图分析

SoC设计质量的高层视图,重点关注领先的APU, CPU, GPU, AI加速器,FPGA,基带/连接,VPU,高级MCU组件,以及AR和视觉处理SoC等新兴应用。

  • 数字功能分析报告(DFAR) -由图像集支持的执行摘要-每年18至20个

分析-数字平面图(DFR)

分析-数字平面图(DFR)

需要订阅“数字平面图分析”
提供工具,用于查询TechInsights的数据,进行独立分析,执行比较,并在Logic Vertical中创建数字平面图(DFR)和其他数据的可视化。DFR数据从渠道内的报告中聚合,使客户能够创建自己的分析和管理。

标准单元GDS库分析

标准单元GDS库分析

GDS布局提取用于领先soc的多个领域的关键标准单元,专注于领先无晶圆厂/代工组合的大批量首次上市soc。提取16-20个标准单元,显示本地路由的原理图和GDS布局。图像集以pdf报告和GDSII文件的形式交付给每个单元。

  • 标准单元GDS库报告- 8份/年
  • 设计技术交互、布局
  • 区域和路由折衷之间的权衡
  • 获得关于设计库妥协的回顾知识,以帮助支持未来的设计库选择
  • 趋势分析-每年3次关于前沿SoC领域的简报

晶体管结构比较

晶体管结构比较

10份报告,每年更新5份报告,根据公司和跨公司研究最近3代技术:台积电,三星,英特尔。

  • 渠道架构
  • 门结构
  • 源/排水工程

互连和模式比较

互连和模式比较

10份报告,每年更新5份报告,根据公司和跨公司研究最近3代技术:台积电,三星,英特尔。

  • 触点/通孔- MOL
  • 模式- MOL和BEOL
  • 电介质和金属化- BEOL


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